使用 R&S®FSW-K50 的高级杂散测量技术

在射频和微波设备的设计、验证与生产中使用频谱分析仪进行杂散发射搜索，是一项困难的测量任务。航空航天和国防领域的射频设计人员尤其需要检测低电平杂散。这需要使用窄分辨率带宽和低噪声基底进行测量，因此增加了测量时间。即便使用快捷的频谱分析仪，也需要花费数小时甚至数天来进行杂散搜索。

本白皮书将介绍杂散测量基础，并说明所用参数如何影响检测性能。R&S®FSW-K50 杂散测量应用采用创新方法，能够更加快速简单地执行和配置杂散搜索。