使用 R&S®RTO/R&S®RTE 分析 EMI 问题

R&S®RTO/R&S®RTE 数字示波器是分析电子设计中 EMI 问题的重要工具。高输入灵敏度、高动态范围和强大 FFT 功能是捕获和分析无用辐射的关键功能。

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您的任务

在调试电磁干扰 (EMI) 问题时,电子设计工程师面临着识别无用辐射源并制定解决方案这一挑战性问题。通常,EMC 测试实验室只提供频谱曲线,指出主要辐射或违反辐射限值的频率。在 EMC 一致性实验室进行重复测试以识别和解决问题既成本昂贵,通常还会严重推迟产品的发布时间。

测试与测量解决方案

R&S®RTO/RTE 数字示波器是设计工程师用于调试 EMI 问题的强大仪器。结合近场探头组,设计人员可以快速定位和分析 EMI 问题。高动态范围和 1 mV/div 的高输入灵敏度可确保分析微弱的辐射信号。R&S®RTO/RTE 快速傅里叶变换 (FFT) 提供了快速更新速率,以及重叠 FFT 技术和余晖显示功能,能够深入了解分析无用辐射。这有助于设计人员快速检测辐射源。

罗德与施瓦茨提供紧凑型 R&S®HZ-15 近场探头组,对采用嵌入式设计的 EMI 调试特别有效。探头组中最小的探头能够捕获单个电路走线上的近场辐射。R&S®HZ-15 覆盖了 30 MHz3 GHz 的频率范围。在灵敏度下降的情况下,探头组也可以在低于 30 MHz 的频率中使用。如果需要获得更高的灵敏度,则可以选用 R&S®HZ-16 前置放大器,以便在 100 kHz3 GHz 的频率范围内提供 20 dB 的增益。

与频谱分析仪类似的界面使得频域设置异常简单。
与频谱分析仪类似的界面使得频域设置异常简单。

应用

设置简单

仅需几步,即可开始 EMI 调试:

  • 按“PRESET”键将示波器设置重置
  • 将近场探头连接到输入通道
  • 将通道的垂直刻度设置为 1 mV/div5 mV/div 范围以获得高灵敏度,并将耦合设为 50 Ω
  • 使用 FFT 工具栏图标启用 FFT 功能
  • 通过“显示▷信号颜色▷启用颜色表”,启用 FFT 信号的颜色表
  • 将水平刻度增加至 40 μs/div 以增大记录长度

高捕获带宽,轻松设置频域

R&S®RTO/RTE FFT 的界面类似于频谱分析仪。FFT 设置对话框包含基本频谱分析仪控件,例如起始频率、终止频率和分辨率带宽。在 FFT 模式下,R&S®RTO/RTE 自动调整相应的时域设置。这样可以确保轻松设置频域。

同时还可以分析捕获的时域信号。R&S®RTO/RTE 各型号对应的最大 FFT 捕获带宽。例如,R&S®RTO1044 可以快速查看测试设备在 0 Hz 至 4 GHz 频带内的辐射信号。

使用频域模板功能捕获偶发事件。
使用频域模板功能捕获偶发事件。
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重叠 FFT 功能,频谱分量显示采用颜色编码

R&S®RTO/RTE 的重叠 FFT 技术首先将捕获的时域信号自动分割成重叠段。示波器会计算每个分段的 FFT,以便显示脉冲型干扰信号等间歇信号。根据出现频率对生成的频谱线进行颜色编码,使间歇信号清晰可见。

重叠 FFT
重叠 FFT

用于时频相关性分析的选通 FFT 功能

选通 FFT 功能可确保仅对用户定义的捕获时域信号范围进行频谱分析。过量频谱辐射与信号的特定时间段相关。典型应用包括无用辐射与开关电源的快速开关边缘以及与总线接口上数据传输的相关性。确认问题之后,设计工程师可以观测频谱辐射的电平变化,轻松查看不同解决方案的有效性,例如阻塞电容器或上升/下降时间缩短。

使用频域模板捕获偶发事件

调试间歇性或偶发性辐射非常困难。此类辐射难以捕获和分析。R&S®RTO/RTE 模板工具可以捕获这些事件。一旦违反了模板,采集将自动停止,用户可以调整 FFT 设置,如分辨率带宽或选通,并使用其他工具(如光标)进行更详细的分析。

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