高速数字接口测试

高速数字接口测试

用于高速数字设计验证、调试和一致性测试的测试与测量解决方案

高速数字接口是所有电子设计的核心。数据率提高,集成密度增加,为集成电路、板卡和系统级设计带来了新的挑战。信号完整性是一项关键要求,即使存在邻近无线信号、其他高速接口和电源路径干扰,也需要得到保证。为高效捕获不理想的信号场景,需要高捕获率和强大的触发功能。

罗德与施瓦茨测试解决方案提供功能强大的工具,可用于系统验证与调试以及一致性测试:

  • 信号完整性:接口测试
  • 信号完整性:PCB 和互连测试
  • 协议级调试
  • 电源完整性测试
高速数字接口测试,DDR 测试

DDR——双倍数据率存储器

  • 用于设计验证与调试的测试解决方案
  • 用于一致性测试的测试解决方案
高速数字接口测试,USB 测试

USB——通用串行总线

  • 用于设计验证与调试的测试解决方案
  • 用于一致性测试的测试解决方案
高速数字接口测试,PCIe 测试

PCIe——高速外围组件互连

  • 用于设计验证与调试的测试解决方案
  • 用于一致性测试的测试解决方案
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