测试 LTE 波束成形
LTE 正成为主要的无线技术。在此标准的几个新功能中,多输入多输出 (MIMO) 技术具有多种优势。
它可改善吞吐量,扩展覆盖范围,减少干扰,并且通过波束成形提高信干噪比 (SINR)。LTE 支持多种模式以优化传输设置。
LTE MIMO 基站由一个基带单元、一个远程无线电头端 (RRH) 和一个最多包括 8 个天线的天线阵列组成。RRH 将基带单元的数字信号上变频为每个天线的模拟信号。
LTE 正成为主要的无线技术。在此标准的几个新功能中,多输入多输出 (MIMO) 技术具有多种优势。
它可改善吞吐量,扩展覆盖范围,减少干扰,并且通过波束成形提高信干噪比 (SINR)。LTE 支持多种模式以优化传输设置。
LTE MIMO 基站由一个基带单元、一个远程无线电头端 (RRH) 和一个最多包括 8 个天线的天线阵列组成。RRH 将基带单元的数字信号上变频为每个天线的模拟信号。
在所描述的场景中,基站软件控制各个天线信号的加权,以将主波束波瓣平移到用户设备 (UE)。这些信号看起来错综复杂。通道之间的加权关系由于极化而与复矢量相乘。对于软件测试或系统调试,需要检查信号并验证加权,这可能根据标准而预先定义,或者为了适应 UE 的位置。
对于此任务,R&S®RTO2044 和 R&S®RTO1044 可用作强大的分析工具,以便分析天线通道之间的幅度和相移。高采集率和高性能 FFT 支持快速检测信号变化,并且无需下变频。R&S®RTO 的带宽涵盖定义的频段。
当信号不连续时,波束成形通常用于 LTE 时分双工模式 (TDD)。对于这些信号,R&S®RTO 示波器提供宽度和窗口触发类型,这支持捕获下游脉冲以防止记录暂停时间段波形。这显著简化了频谱分析。另一个优点在于 R&S®RTO 的多通道功能。如果需要对四个以上的通道进行并行分析,则可以扩展多个示波器进行测试。
在示例测量装置中,将 LTE 发射机的 REF 和 MEAS1 通道连接到对应于 1×2 MIMO 系统的 R&S®RTO。
垂直和水平设置
在第一次测量中,LTE 发射机发出 LTE TDD 信号,并且示波器使用垂直刻度高于满量程 80%的两个通道采集该信号。
设置水平刻度,均衡考虑高采集率、充足 FFT 采样点数和分辨率带宽 (RBW)。
R&S®RTO 的宽度触发用于仅捕获 LTE TDD 信号的突发脉冲。脉冲之间的间隙被忽略,信号 FFT 测量不会因为间隙部分的噪声而受影响。
图 3显示两个 LTE TDD 突发脉冲图,宽度触发为 1 ms,采集时间为 20 ms。触发电平显示为红色虚线。
信号功率
为了检查信号的频谱一致性,下面显示了 REF 通道的频谱。如预期一样,信号是 2.0175 GHz(LTE 频段)上的 15 MHz带宽信号。可以针对 REF 和 MEAS 通道进行自动 VRMS 测量,进而实现幅度加权测量。REF 和 MEAS 通道之间的 RMS 电压比率确定加权因子大小。图 4右侧显示 RMS 电压测量,下方为 REF(蓝色)和 MEAS(粉色)通道的迹线。测量仅关注当前显示信号,因此可提供准确值。触发设置确保测量不受间隙中噪声的影响。
相移
对于 REF 和 MEAS 通道之间的相移,可以设置 MATH 通道来计算相位差。结果显示在图 5中。
需要注意两点:
校准后,图 8中相位测量显示为扁平线。为了评估测量的准确性,使用波形直方图功能,并对该直方图进行自动测量,以得到相位测量的均值和西格玛值。结果显示在右侧红框圈出的信号图标中。偏移 (HMean) 小于 0.1°,西格马 (Hσ) 小于 0.25°,这足以在典型的测试场景中以 1° 的准确度测量相位。
测量可以轻松扩展到更多通道(见图 9)。例如,1×4 MIMO 需要使用四通道 R&S®RTO 数字示波器。针对 REF 信号使用功分器,再加上 3 台示波器,可以分析 1×8 MIMO 系统。REF 信号经功分器输出连接到每个示波器,并将剩余的七个信号分配给空闲的示波器通道。
要更详细地分析 LTE 信号,可以将 R&S®RTO 与 R&S®VSE 软件结合使用,以测量误差矢量幅度 (EVM)、I/Q 不平衡和星座图等其他参数。
使用一个或多个 R&S®RTO 数字示波器,可以对 1×2、1×4 或 1×8 MIMO 系统精确测试 LTE 波束成形。在典型的测试场景中,能够以足够精度检测幅度和相位。测量不需要任何专用软件,并且可以使用标配 R&S®RTO 固件完成。