RF & microwave components

使用频谱分析仪及探头进行差分测量

随着组件尺寸及可用板空间的不断缩小,为射频仪器部署适当的测试连接难度不小。 近来,可用性的改善以及射频电路中高性能差分构件的使用使得连接测试仪器的问题更为严峻。 示波器探头提供了一种可行的解决方案,通过连接到印刷电路板线路及芯片触点即可进行测量(只需接触极小的区域)。 此应用指南介绍了如何在使用频谱分析仪的射频测量中使用示波器探头,并且显示了使用频谱分析仪进行差分测量的结果。

Name
Type
Version
Date
Size
Differential measurements with Spectrum Analyzers and Probes | 1EF84
Type
应用指南
Version
1
Date
Jul 02, 2013
Size
838 kB
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