双脉冲测试

目前，电子电路或受控电气驱动系统的运行会消耗大量电能。为了满足这些应用的电能需求，通常会利用功率电子转换器。IGBT 或 MOSFET 等功率半导体可以通过信号进行调节，可用于构建这些转换器。尽管半导体行业在开发高效、强大的器件方面取得了显著进展，但这些器件仍然会产生功率损耗，从而导致发热。

本分步指南介绍了双脉冲测试 (DPT) 的基本概念和必要的测量装置，并概述了影响测量的相应参数。指南还展示了实用的测量技巧。