应对电力电子测试的挑战
利用先进解决方案测试电力电子设计
数字处理板上的电力电子系统和逻辑电路面临着相似的挑战，但又不尽相同。这些挑战要求权衡影响设计决策的诸多因素。宽禁带半导体（例如氮化镓 (GaN) 和碳化硅 (SiC)）在电源转换器中得到应用，有助于：
- 减小电源体积
- 减少开关损耗
- 提高效率
但是，所用的开关频率越高，电源转换器内部出现寄生效应的可能性越大。
电力电子测试和设计的挑战
- 增加开关电源的工作频率，能够减小电感电流纹波、输出电压纹波、电容和电源体积，但也会增加电源损耗和热量，引起高压侧和低压侧晶体管之间的相互作用以及直通事件。
- 电源噪声增加，是导致 EMI 问题的主要原因。
- 电源布局紧凑，会引起热变化并导致热量增加，从而造成稳压器、放大器和转换器等器件出现错误。
- 电压降低，会减小容差并提高精度要求。为了向不同的电源域提供各种电压，电源树变得更加复杂，需要部署更多的电源路径以便连接所有集成电路引脚。
- 较薄的直流电源路径能够让电路布局更加紧凑，有助于管理复杂布局，但是这种设计容易导致过热和电感增加。
保证电力电子电路的可靠性
可靠性是电力电子电路的一个重要要求：如果电源电路出现故障，设备将无法正常工作。提高效率能够最大程度地减少导致热量产生的能量损失，有助于增强可靠性。即使是最高效的电力电子电路也会产生热量，因此，良好的散热设计和合适的材料选择至关重要。电力电子电路还必须满足 EMI 要求：干扰发射会影响设备本身和周围的其他设备。
Rohde & Schwarz approved by USB-IF for USB 3.2 Gen 1 & Gen 2 transmitter and receiver compliance testing
The USB Implementers Forum (USB-IF) has approved the USB 3.2 Gen 1 & Gen 2 transmitter and receiver compliance test solution from Rohde & Schwarz, confirming that it meets the stringent requirements set by the standardization body. Manufacturers of USB devices preparing for official USB-IF certification can have full confidence in the accuracy and reliability of the test results produced by the test solution.
