应用搜索
罗德与施瓦茨已制定一系列的应用指南、应用说明以及应用视频,旨在分享我们在测试与测量仪器方面的知识、原理及方法,并帮助您充分发挥罗德与施瓦茨公司测试与测量仪器的效能。
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1142 结果
R&S®QPS 毫米波人体安全检查设备提供高分辨率安全扫描,专用于在安检点更加快速、高效、舒适地检查人员安全。R&S®QPS 安全扫描仪采用安全的毫米波射频技术,能够自动安全地检测可能危险的人体威胁和违禁品。
1月 24, 2019
R&S®FSW 信号与频谱分析仪可以测量和分析时间旁瓣,从而优化压缩的雷达信号以及雷达硬件组件和系统。通过自动化且可重复的测量,雷达系统开发人员可以改善并即时验证自己的设计。
10月 22, 2020
CompactTSVP, 监控系统, 胎压, 射频信号, 微控制器, ISM, 无线传输 针对胎压监控系统的功能性测试 针对胎压监控系统的功能性测试 CompactTSVP, 监控系统, 胎压, 射频信号, 微控制器, ISM, 无线传输 针对胎压监控系统的功能性测试 针对胎压监控系统的功能性测试 CompactTSVP, 监控系统, 胎压, 射频信号, 微控制器, ISM, 无线传输 针对胎压监控系统的功能性测试
5月 10, 2006
射频前端 (RFFE) 中组件导致的失真会限制通信系统的性能和吞吐量。失真类型包括:▪ 调幅-调幅和调幅-调相(增益随幅度出现复杂变化)▪ 非线性频率响应(记忆效应)所有 RFFE 组件均具有这些失真,仅在比例方面有所不同。此应用指南解释了如何测量各 RFFE 组件和整个 RFFE。后续文件将更加完整地分析线性化的商用卫星通信块上变频器产品,包括与理论限值进行比较。
2月 27, 2017 | AN-No. 1MA299
SMW200A, SMZ90, 脉冲序列生成软件, 矢量信号发生器, 倍频器, 汽车电子雷达传感器, 测试汽车电子雷达 对照标准干扰测试汽车电子雷达:R&S®Pulse Sequencer 脉冲序列生成软件可仿真任意射频环境,并支持生成雷达标准干扰,以便测试在 24 GHz、77 GHz 和 79 GHz 频段内操作的汽车电子雷达。 对照标准干扰测试汽车电子雷达 SMW200A, SMZ90, 脉冲序列生成软件, 矢量信号发生器, 倍频器, 汽车电子雷达传感器, 测试汽车电子雷达 对照标准干扰测试汽车电子雷达:R&S®Pulse Sequencer 脉冲序列生成软件可仿真任意射频环境,并支持生成雷达标准干扰,以便测试在 24 GHz、77 GHz 和 79 GHz 频段内操作的汽车电子雷达。 对照标准干扰测试汽车电子雷达 SMW200A, SMZ90, 脉冲序列生成软件, 矢量信号发生器,
10月 20, 2016
噪声系数是用于描述电子设备噪声影响的重要参数。传统的噪声系数测量方法采用可通过切换“热”/“冷”状态以提供两种不同输入噪声功率的噪声源和噪声接收机(如频谱分析仪)。采用具有“冷源”的矢量网络分析仪方法则与此不同,无需使用噪声源。对被测设备进行冷源噪声功率测量和可用的增益测量,便足以确定设备的噪声系数。本应用指南描述了通过“冷源”方法使用 R&S®ZNA 矢量网络分析仪系列测量噪声系数。指南中提供了相关方程式以分析被测设备和一系列设备的噪声因子、噪声系数和噪声温度。应用指南通过测量示例指导用户了解设置噪声系数通道和执行噪声系数测量的完整流程。此外,指南还评估了各种测量选件,并指导用户了解每种选件的使用场景和方法以改善噪声系数结果。
12月 23, 2021 | AN-No. 1SL378
测试天线罩, 保险杠, QAR50 在从设计到批量生产的所有阶段测试天线罩和保险杠 测试天线罩, 保险杠, QAR50 在从设计到批量生产的所有阶段测试天线罩和保险杠 测试天线罩, 保险杠, QAR50
4月 21, 2022
随着组件尺寸及可用板空间的不断缩小,为射频仪器部署适当的测试连接难度不小。 近来,可用性的改善以及射频电路中高性能差分构件的使用使得连接测试仪器的问题更为严峻。 示波器探头提供了一种可行的解决方案,通过连接到印刷电路板线路及芯片触点即可进行测量(只需接触极小的区域)。 此应用指南介绍了如何在使用频谱分析仪的射频测量中使用示波器探头,并且显示了使用频谱分析仪进行差分测量的结果。
6月 28, 2013 | AN-No. 1EF84
无线电信号, 自动监测, 干扰, 射频辐射, 频谱, 在医院环境中自动监测干扰设备灵敏性的无线电信号 在医院环境中自动监测干扰设备灵敏性的无线电信号 无线电信号, 自动监测, 干扰, 射频辐射, 频谱, 在医院环境中自动监测干扰设备灵敏性的无线电信号 在医院环境中自动监测干扰设备灵敏性的无线电信号 无线电信号, 自动监测, 干扰, 射频辐射, 频谱, 在医院环境中自动监测干扰设备灵敏性的无线电信号
9月 04, 2006
出于多种原因,需要测量噪声系数大的组件。例如,多种应用中的低噪声被测设备 (DUT) 使用复杂的测试装置进行特征校准,而这些装置会在连接 DUT 之前或之后产生高损耗。在高频条件下,具备复杂信号路由和电缆的开关矩阵可能产生高损耗。或者,被测设备可能嵌入无法直接操作的测试装置,例如晶圆上探测应用。传统的测量设备即便能够针对此类设备执行噪声系数测量,也会非常不稳定。
6月 24, 2020 | AN-No. 1EF110