单次射频连接测量

您的任务

射频组件表征通常包括测量调制精度、匹配度或完整的 S 参数。调制精度通过误差矢量幅度 (EVM) 或误码率 (BER) 等参数测量设备的传输性能。射频组件表征还会测量组件是否符合带外发射和邻道泄漏比 (ACLR) 等监管要求。匹配测量可确保组件在系统中按设计运行，例如在特定天线阻抗下实现额定功率传输。测试时间是一个关键参数，提高测试速度可有效降低成本。

罗德与施瓦茨解决方案

调制精度测量需要使用全调制信号来激励被测设备 (DUT)，以确保其性能与实际应用中一致。测试系统中的宽带矢量信号发生器 (VSG) 为 DUT 提供输入信号。

为测量诸如 EVM 或 BER 的真实性能指标，需要使用宽带矢量信号分析仪 (VSA)，并搭配一个或一组符合 DUT 使用场景的测量应用（符合标准或自定义）。尽管可以基于窄带测量结果估算 EVM，但要获得符合标准的真实 EVM、BER 或数字预失真 (DPD) 指标，通常仍需借助宽带 VSA 和配套测量应用。

ACLR 等监管测量通常只需使用具备大动态范围的窄带频谱分析仪。在一些测试场景中，测试速度比动态范围更重要。信号与频谱分析仪组合可以平衡速度和动态范围，满足特定测试场景的需求。和监管测量一样，匹配测量和 S 参数测量通常也需要权衡动态范围和速度。矢量网络分析仪 (VNA) 提供了所需的灵活性。

应用

如前所述，射频组件测试至少需要三种不同的测试与测量功能（EVM、ACLR 和 S 参数），而且通常具有不同的性能要求。除此之外，测试时间也是一个关键参数。更换射频线缆既耗时，又需要人工操作，是导致测量误差的常见原因。

因此，减少射频连接次数能够显著降低测试成本。下图展示了一种满足上述所有要求的测试架构：

• 单次射频连接
• VNA 适用于高度灵活的匹配测量
• VSG/VSA 组合适合真实场景测量，包括 EVM、DPD 和 BER 测量

整个测试架构还包括两个标准耦合器。耦合器可根据动态范围和频率范围要求进行选择。

耦合器 1 将 VSG 和其中一个 VNA 端口连接到 DUT 输入端，耦合器 2 将 VSA 和另一个 VNA 端口连接到 DUT 输出端。耦合器的直通端口用于调制宽带测量，因为此类测量对信噪比 (SNR) 要求非常严格。利用连续波 (CW) 激励信号，VNA 可通过减少滤波器带宽等方式来补偿降低的 SNR。

VNA 测量和校准以输入端的 3/4 校准平面和输出端的 5/6 校准平面为参考。VSG 和 VSA 均支持去嵌（例如用于外部耦合器）。

使用三个独立仪器可进一步提升测量架构的灵活性：VSG 和 VSA 可以选择具备最大带宽与最高性能的高端仪器，而 VNA 测量只需使用中档仪器，反之亦然。

总结

上述测试架构能够灵活满足不同的测试需求，还具备一个附加优势，只需通过一个射频接口连接至 DUT。