使用 R&S®RT-ZISO 隔离探测系统进行准确的双脉冲测试

您的任务

在评估功率晶体管特性时，为准确测量快速开关瞬态，需要在 DPT 系统中分析动态导通电阻和开关损耗，同时应对高电压差和共模 (CM) 噪声。传统探测方法难以同时满足安全性、准确性和带宽要求，尤其是在宽禁带半导体测试中。在测量高侧晶体管的栅源电压时，低侧晶体管切换开关节点，会导致共模电压快速变化。传统高压差分探头使用较长的 4 mm 香蕉插头测试线时，极易受到噪声干扰。工程师需要一种能够克服这些局限的解决方案，以实现高精度测量和高频下的高共模抑制比 (CMRR)。

罗德与施瓦茨解决方案

R&S®RT-ZISO 隔离探测系统专为应对这类测量挑战而设计。光隔离技术限制通向测量设备的回流路径，有助于抑制 CM 噪声。新的同轴探测方式使带屏蔽层的探头前端能够将快速 CM 噪声引回源端，从而最大限度地减少对测量信号的干扰，并使探头具备出色的 CMRR。传统高压差分探头在最高 400 MHz 的带宽下，CMRR 通常仅为 20 dB 至 25 dB。下图详细展示了如何使用 R&S®RT-ZISO 测定晶体管的栅极充电效应。

DPT 系统中的 CMRR 注意事项

在 DPT 系统中测量快速功率器件时，R&S®RT-ZISO 隔离探测系统有助于抑制 CM 噪声，还原真实的测量结果。只有当测量路径的插入电感降至最低时，才能实现良好的 CMRR。可以使用插孔式和宽插孔式探头前端，但与同轴探头前端相比，这些探头前端在连接 DUT 和进行信号布线时，会导致高频率下的 CMRR 大幅降低。因此，需要合理设计连接器，并注意信号布线。在这方面，DPT 专家的建议会很有帮助。

PE-Systems GmbH 为全球用户提供 DPT 解决方案，包括模块化 DPT 测试仪的设计和系统集成服务。模块化夹具有助于最大限度地降低寄生效应，并采用 MMCX 连接器设计与 R&S®RT-ZISO 配合使用，以确保出色的信号性能。丰富的经验和专业知识对于获得准确且可重复的测量结果至关重要。

凭借低噪声和 ±20 mV 的高灵敏度，该探头同样适用于分流器电流测量。PE-Systems 采用了低插入电感、高带宽的 MMCX 表面贴装分流器，以实现准确的电流测量。

电气性能之外的其他 DPT 要求

DPT 测试还需要兼顾机械适应性和测试环境。高电压与大电流测试在安全防护箱内进行，设备和探头的安装空间有限。模块化测试系统需要满足温度调节要求，并配备复杂的栅极驱动器，要求合理布置仪器和探头。

R&S®RT-ZISO 配备长型可塑探头前端，并提供兼容常见三脚架和相机支架的探头支架，便于灵活定制。可塑探头前端能够保持形状，对连接器施加的作用力极小，有助于延长其使用寿命。在处理高频共模信号时，应使测试仪器保持安全距离或进行屏蔽，以尽可能减少干扰。

PE-Systems 的模块化 DPT 测试仪支持 MXO 5C 示波器以及 R&S®RT-ZISO 的 10 米长光纤电缆。PE-Systems DPT 测试仪还可通过软件进行远程操作，从而在安全距离内控制设备和探头。

总结

下一代功率器件的 DPT 测试对高频和高电压范围内的 CMRR 提出了更高要求。R&S®RT-ZISO 隔离探测系统专为满足这些需求而设计。结合 PE-Systems 的 DPT 测试解决方案，这些探头拓展了测试能力，可在噪声环境中实现准确测量，并支持快速分流器电流测量。

随着精度和可靠性要求不断提高，测试设计和专用测试系统方面的专业能力变得至关重要。罗德与施瓦茨和 PE-Systems 的联合解决方案能够全面满足您的测量要求。