使用 R&S®ZNB 在高速数字信号线路上执行精准测量
随着数据率不断提高,高速数字设计和组件的信号完整性变得更具挑战性。在更高的数据率下,矢量网络分析仪 (VNA) 更是逐渐取代传统的时域反射计 (TDR) 装置,以用于测试连接器、电缆和 PCB 等无源器件。VNA 有助于提高准确性、速度和静电放电 (ESD) 稳健性,是这个领域的理想之选。
随着数据率不断提高,高速数字设计和组件的信号完整性变得更具挑战性。在更高的数据率下,矢量网络分析仪 (VNA) 更是逐渐取代传统的时域反射计 (TDR) 装置,以用于测试连接器、电缆和 PCB 等无源器件。VNA 有助于提高准确性、速度和静电放电 (ESD) 稳健性,是这个领域的理想之选。
R&S®ZNB20 装置可用于验证 PCB 上高达 20 GHz 的高速差分信号线路
验证 PCB 上的数字高速信号结构或执行其他任务时,必须在特定层进行测量,同时确保不受探头、探头垫、通孔、引入线和引出线的影响。因此,需要借助精确的去嵌算法计算并消除此类测量影响,确保只保留兴趣区域的测量结果。
以下装置示例展示了验证 PCB 上高达 20 GHz 的高速差分信号路线。该测试装置基于 R&S®ZNB20 四端口 VNA。相应去嵌工具(如 Delta-L、Delta-L+、PacketMicro 智能夹具去嵌 (SFD) 或 AtaiTec 原位去嵌 (ISD))可直接在 R&S®ZNB20 上运行,无需使用外部电脑。
除了待测量的实际信号迹线之外,PCB 试样通常还包括较短信号迹线以促进去嵌操作。PacketMicro 等公司的差分 PCB 探头可用于连接 R&S®ZNB20与此类信号迹线。
为精简测试程序并指导操作员完成测试步骤,通常使用软件自动执行测试。左侧屏幕截图显示测试程序的三个步骤示例:
对于双通(短)结构和整体(长)结构测量,两个探头的阻抗变化趋势显示在插入损耗结果上方。这样便于快速确定是否需要重新调整探头。
可以使用 R&S®ZNB-K20选件进一步分析兴趣区域的眼图。此选件还可用于验证眼图中的加重、噪声、抖动和均衡影响。它还可用于模板测试,并提供合格/不合格检测与统计结果。
R&S®ZNB具备所有必要功能,单机即可测试 PCB 上的数字高速信号结构。该仪器上还可安装其他去嵌工具,以便消除探头、探头垫、通孔、引入线和引出线的影响。
订购信息 | |||
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名称 | 数量 | 类型 | 订单号 |
矢量网络分析仪 | |||
矢量网络分析仪,四端口,100 kHz至 20 GHz,PC 3.5 连接器 | 1 | R&S®ZNB20 | 1311.6010.64 |
时域分析 | 1 | R&S®ZNB-K2 | 1316.0156.02 |
扩展时域分析 | 1 | R&S®ZNB-K20 | 1326.8072.02 |
校准单元或校准套件 | |||
校准单元,10 MHz至 24 GHz,四端口,3.5 mm(阴性) | 1 | R&S®ZV-Z52 | 1164.0521.30 |
校准套件,50 Ω,0 Hz至 24 GHz,3.5 mm(阴性/阳性) | 1 | R&S®ZV-Z235 | 5011.6542.02 |
验证 PCB 上的数字高速信号结构或执行其他任务时,必须在特定层进行测量,同时确保不受探头、探头垫、通孔、引入线和引出线的影响。因此,需要借助精确的去嵌算法计算并消除此类测量影响,确保只保留兴趣区域的测量结果。