超高分辨率测向方案
超高分辨率测向方案有助于确定同一频率上多个发射的方向。该方案可检测频谱内被其他发射信号掩盖的信号。借助这种超高分辨率测向方案,用户可以确定使用其他不具备此方案的测向机无法检测到的发射源的方向。
超高分辨率测向方案有助于确定同一频率上多个发射的方向。该方案可检测频谱内被其他发射信号掩盖的信号。借助这种超高分辨率测向方案,用户可以确定使用其他不具备此方案的测向机无法检测到的发射源的方向。
大部分无线电 DF 方案只能测定特定频率(关注的发射机完全占用该特定频率)上某个发射源的方向。然而,如果其他发射机也在同一频率下操作,则测向功能会受到影响(同信道干扰)。在此情况下,DF 结果取决于发射机的电平比。如果某个发射机具有明显优势,则显示的方向带有轻微 DF 误差。如果发射机电平相似,则 DF 结果一般都不正确。这适用于所有的传统 DF 原理,包括相关干涉仪、多普勒以及沃森-瓦特方法。
事实上,同信道干扰经常发生。在一定程度上,同信道干扰是传输方法的一个特性:
为了获取同信道信号的方向,罗德与施瓦茨现推出超高分辨率 DF 方案,作为 R&S®DDF1GTX 高速扫描高频测向机的选件。R&S®DDFGTX‑SR 选件是对现有的 DF 方案的补充。超高分辨率是 R&S®DDF5GTS 高速扫描测向机的一个标准特征。这种超高分辨率 DF 方案能够解析波场(同一频率上有多个信号)。首先准确计算并显示波数以及入射角。最大数取决于接收频率、入射角以及信噪比。
传统的 DF 方案基于这样的假设:关注的频道只有一个主波。然而情况可能并非如此,比如基于以下因素:
传统 DF 技术提供两个应对措施:
超高分辨率 DF 方案提供了针对此问题的系统性解决方案:使用户能够计算涉及的波数及入射角。这可以不同的方式完成。最准确的方法是依据天线数据的主成分分析 (PCA)。新型 R&S®DDF5GTS 以及 R&S®DDFGTX-SR 超高分辨率选件充分利用了 PCA。