background

杂散测量

使用 R&S®FSW 快速可靠地检测杂散

为了测量低电平杂散,通常需要降低分辨率带宽,而这会增加测量时间。R&S®FSW-K50 杂散测量选件可自动搜索杂散,速度快于频谱分析仪的标准杂散搜索测量功能。用户只需输入频率范围和所需的杂散检测电平。应用会计算在每个频率下进行测量的最佳分辨率带宽 (RBW)。在 –120 dBm 或更低电平条件下进行测量时,R&S®FSW-K50 杂散选件的搜索速度远快于传统的杂散搜索方法。

请求信息

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.
For service/support requests, please go here to log in or register.

推广许可

你的申请已提交,我们稍后会联系您。
An error is occurred, please try it again later.