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129 结果
此应用说明回顾了由内嵌校准单元 (ICU) 组成的新校准子系统。这些 ICU 专为现场使用而设计,所以在校准过程中和被测设备 (DUT) 的测量过程中都保留在原位。这为基于 VNA 的测量系统增加了多功能性、方便性和准确性,因为这意味着可以随时刷新校准,而无需手动将 DUT 从测试系统断开。
9月 29, 2017 | AN-No. 1EZ71
Development Hints and Best Practices for Using Instrument Drivers
Jan 01, 2013 | AN-No. 1MA153
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