Radar / EW testing

使用频谱分析仪进行杂散电平测量时的速度考量

杂散电平测量的测量速度主要是由频谱分析仪的扫频速度决定的。使用传统的扫描频谱分析仪以及严格的杂散限制,测量少则需要数小时,甚至长则一整天。该应用指南描述了扫描频谱分析仪与现代频谱分析仪(使用宽带 FFT 流程)之间的扫描速度差异,以及后者如何提高一般杂散测量的测量速度。

Name
Type
Version
Date
Size
Speed considerations for Spurious Level Measurements with Spectrum Analyzers | 1EF80
Type
应用指南
Version
1
Date
Jul 09, 2012
Size
359 kB
Name
Type
Version
Date
Size
Speed considerations for Spurious Level Measurements with Spectrum Analyzers | 1EF80
Type
应用指南
Version
1rus
Date
Aug 09, 2012
Size
527 kB
Name
Type
Version
Date
Size
Speed considerations for Spurious Level Measurements with Spectrum Analyzers | 1EF80
Type
应用指南
Version
1J
Date
Oct 25, 2012
Size
786 kB
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