优化材料或设备时，一个重要环节就是测量介电特性。测量介电常数可以让我们确定以下材料特性：
有两种不同的仪器可以测量介电特性，具体选择视频率范围而定。
罗德与施瓦茨在射频技术方面积累了深厚的专业知识，为材料科学研究提供强力支持。2021 年 7 月，苏黎世仪器加入了罗德与施瓦茨大家庭。苏黎世仪器研发各种阻抗测量和材料科学解决方案，大大完善了罗德与施瓦茨的产品组合。
电介质具备极化性，在直流状态下是一种电导率很低的电绝缘体。电介质可以储存低频和中频范围内的电荷。这种电容效应使得电介质可用于电荷的储存和耗散。了解电容器或薄膜电介质应用中所用材料的介电常数非常重要，例如：
为了充分了解材料物理特性以及优化设备性能，需要开展电介质的阻抗研究。
阻抗分析仪非常适合低频测量。苏黎世仪器的 MFIA 可以在 1 mHz 至 5 MHz 的频率范围内进行测量，并计算阻抗参数，例如介电常数和 损耗因数。
使用阻抗分析仪进行电介质表征时，将特定几何结构的样品与两个电极相接触。这一般需要使用平行平板夹具。对于这样的几何结构，可以根据材料电容与空气电容之比得出介电常数（相对介电常数）。
高频表征需要使用 VNA。具体的测量方法取决于所需的频率范围、测量速度和精度。有四种常用的测量方法：
材料的物理和介电特性也很重要。比如说，材料是固态、液体还是粉末？材料的温度高吗？形状特殊吗？这些特性对选择合适的表征方法有很大的影响。
测量方法还会确定除了 VNA 之外需要的材料样品夹具。
罗德与施瓦茨和苏黎世仪器的阻抗分析仪和 矢量网络分析仪涵盖材料科学研究所需的整个频率范围。
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罗德与施瓦茨的材料表征解决方案提供非常宽的频率范围。我们与可靠的测试夹具供应商合作，在我们的解决方案中加入他们的驱动程序，让我们的仪器即插即用。另有更多优势：
