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R&S®RT-Zxx Oscilloscope Adapters - Specifications

R&S®RT-Zxx Oscilloscope Adapters - Specifications

R&S®RT-Zxx Oscilloscope Adapters - Specifications

1月 23, 2025 | 新闻发布

罗德与施瓦茨推出PC端示波器解决方案R&S ScopeStudio,助力研发团队效率跃升

罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”)推出了创新软件应用R&S ScopeStudio,进一步丰富了其示波器产品线。该应用将MXO系列示波器的强大功能扩展至PC端,为工程师提供了一个更为便捷、高效的工作平台。通过这一先进解决方案,工程师们能够轻松实现示波器测量数据的查看、分析、归档及共享,从而显著提升开发团队的工作效率。

R&S®ScopeStudio Software - Specifications

This document provides the technical specifications of the R&S®ScopeStudio software.

R&S®ScopeStudio Software - Specifications

7月 17, 2024 | 新闻发布

罗德与施瓦茨为MXO系列示波器配备基于ASIC的区域触发功能,刷新了采集速率记录

罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”)推出业界首款基于 ASIC 的区域触发功能,进一步加强其示波器产品组合。MXO 系列示波器可提供目前业界最快的区域触发更新率,每秒高达 600,000 个波形,触发事件之间的盲区时间小于1.45 us。与同类区域触发竞品相比,速度最多可提高10,000倍。由于采用了基于ASIC的新型区域触发技术,MXO系列示波器可以精准隔离那些传统触发技术不具灵活性的事件。

6月 11, 2024 | 新闻发布

罗德与施瓦茨推出用于精确测量高速开关信号的R&S RT-ZISO 隔离测量系统

罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”)推出 R&S RT-ZISO 隔离测量系统,进一步提升其高端示波器产品组合。新的 R&S RT-ZISO 能够极其精确地测量高速开关信号,尤其是在高共模电压和电流的环境中。此外,新推出的 R&S RT-ZPMMCX 无源探头配有 MMCX 连接器,可在特定测量任务中与隔离探头系统完美互补。

May 27, 2024 | 新闻发布

Rohde & Schwarz presents its solutions for next generation wide bandgap device test and debug at PCIM Europe

Rohde & Schwarz will showcase its latest solutions for power electronics testing at PCIM Europe in Nuremberg, addressing challenges of testing and debugging the next generation of wide bandgap semiconductors in power electronic converters.

Feb 13, 2025 | 新闻发布

Rohde & Schwarz showcases its advanced test solutions for embedded systems at embedded world 2025

Rohde & Schwarz will present its advanced test and measurement solutions for the embedded industry at the embedded world, to tackle the emerging challenges in all embedded systems: From energy efficiency and electromagnetic interference to digital design and connectivity.

Mar 26, 2024 | 新闻发布

embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systems

Rohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.

R&S®RT-Zxx Standard Probes - Specifications

R&S RT-Zxx Standard Probes - Specifications

R&S®RT-Zxx Standard Probes - Specifications
电源抑制比测量

R&S®RTx-K36 频率响应分析选件价格合理,可代替低频网络分析仪或专用的独立式频率分析仪。

12月 18, 2018

Oct 12, 2022 | 新闻发布

Rohde & Schwarz empowers launch of 4D imaging radar platform by automotive radar manufacturer Cubtek in partnership with NXP

Cubtek Inc. is using network analyzers from Rohde & Schwarz in the development of 4D imaging radar for RF measurement of the E-band. Rohde & Schwarz oscilloscopes and their independently developed, application-specific integrated circuits (ASIC) provide the best measurement tools for automotive radar research and development.

R&S®RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

R&S RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

R&S®RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications
电源控制环路响应测量(波特图)

R&S®RTx-K36 频率响应分析(波特图)选件可显示针对操作条件变化(例如电源电压变动)的系统响应。

8月 13, 2024

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters - White Paper

This document provides: - An explanation of update rate - How users can quickly perform their own update rate characterization - How to compare vendor update rates - Benefits of fast update rate

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters - White Paper

This document provides: - An explanation of analog versus digital triggering architectures - User advantages for oscilloscopes that have digital triggering - How to determine if an oscilloscope has a digital or analog trigger

Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters | 选择下一代示波器: 数字触发的重要性 - White Paper

本白皮书包含以下内容:- 模拟和数字触发架构 - 数字触发示波器的优势 - 如何辨别数字或模拟触发示波器

Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters | 选择下一代示波器: 数字触发的重要性 - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper 手册及数据表 White Paper

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper
Understanding oscilloscope ENOB Values

Selecting Your Next Oscilloscope:

If you are selecting your next oscilloscope and want more insight on how to understand ENOB values measured and published by oscilloscope manufacturers, this document is for you. The effective number of bits (ENOB) is a way of quantifying the quality of analog to digital conversion. A higher ENOB means that voltage levels recorded in analog to digital conversion are more accurate. Understanding oscilloscope vendor-supplied ENOB values can be complex. This document focuses on interpretation of measured ENOB results made on oscilloscopes rather than the math behind ENOB calculations.

Jun 21, 2024 | AN-No. 1TD12

通过触发输出缩短 ATE 测试时间

通过触发输出缩短 ATE 测试时间

5月 30, 2024

R&S®ScopeStudio Software - Flyer

Oscilloscope application software for PCs: Enhance your oscilloscope experience

R&S®ScopeStudio Software - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System | モジュラープローブ・システム - Flyer

このR&S®RT-ZM モジュラープローブ・システムは、現在のプロービング要件に対応する、高度な技術と使いやすさを兼ね備えたソリューションです。

R&S®RT-ZM Modular Probe System | モジュラープローブ・システム - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System | 모듈러 프로브 시스템 - Flyer

R&S®RT-ZM Modular Probe System은 정교한 기술과 간단한 사용법으로 오늘날의 프로빙 요구 사항을 해결합니다.

R&S®RT-ZM Modular Probe System | 모듈러 프로브 시스템 - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System - Flyer

The R&S®RT-ZM modular probe system addresses current probing requirements with a technologically sophisticated yet easy-to-use solution.

R&S®RT-ZM Modular Probe System - Flyer
Oscilloscope Buyer's Guide | How to choose an oscilloscope - Flyer

This guide covers the most important aspects of selecting an oscilloscope and provides you with the knowledge to make the best choice for your needs.

Oscilloscope Buyer's Guide | How to choose an oscilloscope - Flyer
Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters - White Paper

This document provides: - A description of how oscilloscope acquisition memory is defined - Insight into the relationship between memory and other oscilloscope parameters - Examples where deep memory provides value

Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters | 选择下一代示波器: 深存储的重要性 - White Paper

本指南将介绍以下内容:- 示波器采集存储的定义 - 存储和其他示波器参数的关系 - 深存储的作用示例

Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters | 选择下一代示波器: 深存储的重要性 - White Paper
EMI precompliance solution navigator - Flyer

Choose the most suitable EMI debugging or precompliance solution

EMI precompliance solution navigator - Flyer
Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | Инновационные осциллографы | Достоверные результаты измерений.

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | Инновационные осциллографы | Достоверные результаты измерений. 手册及数据表 Flyer

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Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Flyer 手册及数据表 Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Flyer
Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | オシロスコープの革新、測定の核心に迫る。 - Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | オシロスコープの革新、測定の核心に迫る。 - Flyer 手册及数据表 Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | オシロスコープの革新、測定の核心に迫る。 - Flyer
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