天线测量技术
引领天线研究的未来
罗德与施瓦茨很早就涉猎天线研究领域，致力于开拓创新的测试与测量解决方案。我们坚持不懈地推动天线技术的发展，并取得了显著成果，开发出了一系列尖端的天线测试设备。从早期的天线研究到最后的测试阶段，我们始终处于前沿地位，提供各种创新工具，重新定义了行业标准。
在解决天线研究的挑战时，我们不只是开发解决方案，还拓展了潜能。我们的 “追求卓越”的理念体现在所有产品中，为研究人员和工程师提供所需工具，帮助他们完成复杂的天线测量任务。
开发天线技术
我们拥有众多专利，并对此深感自豪。我们在过去 15 年提交了超过 100 多项天线测量专利，将近 70 项获得了批准。这些专利彰显了我们对卓越的不懈追求，展现了我们在开发先进的天线测量技术方面处于领先地位。
- C. Rowell、B. Derat，“测试系统和测试方法”，美国专利 10536228：发明一种非常紧凑（占用空间非常小）的空口 (OTA) 天线测试系统
- C. Rowell，“用于被测设备空口测试的测量系统”，美国专利 11340278：用于模拟多个到达角的多 CATR 布置概念。凭借这个专利，罗德与施瓦茨成为市面上唯一一个可以使用一个测量暗室涵盖所有 3GPP RF FR2 一致性测试场景的制造商。
- B. Derat、G. Hamberger，“用于校正辐射方向图的方法、系统和计算机程序”，美国专利 10830805：当被测设备 (DUT) 的天线偏离坐标中心时用于在小型测试箱中校正误差的算法
我们还在知名的学术期刊和会议上发表了多个研究成果。
- B. Derat、G. F. Hamberger 和 F. Michaelsen，“测量总辐射功率的最短距离长度”，《IET 微波、天线与传播》：对远场测试距离概念的修订，表明在某些场景中不需要弗劳恩霍夫测试距离
- G. F. Hamberger、J. A. Antón、S. J. Lachner 和 B. Derat，“对由于测量坐标系中天线位置偏移导致的无线设备空口收发性能误差的校正”，《IEEE 天线与传播学报》：本文围绕美国专利 10830805 中的偏移校正算法（如上所示）
