组合测试——针对光耦合器的扩展测试法

必须通过函数以及电路内测试，测试光耦合器是否符合指定的参数值。

光耦合器的基本特性是其输入端与输出端之间的直流隔离。在很多情况下，确定电流传输比 (CRT) 都至关重要。设备的耦合系数会因半导体老化而下降，且玻璃纤维因老化而变得模糊不清，这些都可能造成开关功能失灵。如果光耦合器的输入功率很低，或者输入端需要很强的驱动电流，则测量耦合因数的做法十分有用。光耦合器的时间特性同样重要，尤其是在被测设备 (DUT) 与数字总线线路电隔离的位置。各个光耦合器之间的延时差可能导致错判总线上的信号，并因此使被测设备作出错误的响应。

测试与测量解决方案

开放式测试平台 R&S®CompactTSVP 提供了理想的解决方案。除了行业标准之外，R&S®CompactTSVP 可使用罗德与施瓦茨的测量、激励以及交换模块扩展，或者通过其他标准模块扩展，视具体应用而定。

为确定耦合因数，需要使用任意波形及函数发生器模块 R&S®TS-PFG，以及模拟源及测量模块 R&S®TS-PSAM。通过使用 CompactPCI/PXI 数字示波器并行记录和分析控制及交换信号，可以确定光耦合器的交换特性。

根据需要，通过扩展增强型通用测试软件库 (R&S®EGTSL)，可以测试大多数市售的光耦合器。该软件可实现极为便利的测试参数设置及调试，而且测试速度也很快。

应用

第一步，确定是否已安装光耦合器。最简单的方法是，分别测量输入端二极管以及输出端电阻器的高低阻抗。为更详细地了解有关光耦合器功能的信息，可以额外进行以下的分析步骤。通过交换矩阵模块 R&S®TS-PMB 将测量仪器以及源连接到被测设备。任意波形及函数发生器模块 R&S®TS-PFG 含有两个浮动通道，其中一个通道可作为光耦合器的驱动电压源，另一个则用于仿真连接到输出端的负荷。为确定耦合因数 k 或电流传输比，模拟源及测量模块 R&S®TS‑PSAM 将测量初级侧以及次级侧的电流。通过计算输出电流与输入电流的比率，可得出耦合因数。

此测试方法的所有参数值都可以输入易于操作的屏幕，并通过软件检查其合理性。