DDR3/4 存储器设计的系统级验证和调试

本应用指南介绍了 DDR 存储器技术，解释了与特定 DDR 数据、命令/地址和控制总线相关的常见难题，并描述了用于验证和调试 DDR 系统设计的典型测量。

本应用指南介绍了建议的测试点、示波器探头连接以及通过去嵌补偿 DDR 插补器的影响。指南描述了通过眼图测量、高级触发和时域反射/时域透射功能有效验证信号完整性。由于存在大量的信号线和动态总线终端，同步开关噪声 (SSN) 会显著影响 DDR 存储器设计。相关信号完整性和电源完整性与设计模式密切相关。本指南介绍了相应方法以实现高采集率和有效检测不理想的情况，能够影响整体存储器设计的性能。指南还深入探讨了电源完整性问题。

本应用指南介绍了设计验证和调试流程的最佳实践范例，适用于涉及 DDR 存储器设计工作的所有系统设计人员和测试工程师。