EMI 调试
EMI 调试

电磁干扰 (EMI) 调试

在调试电磁干扰 (EMI) 问题时,电子设计工程师面临着识别无用辐射源并制定解决方案的挑战。在 EMC 一致性实验室进行重复测试以识别和解决问题既成本昂贵,通常还会严重推迟产品的发布时间。常见测试遍布整个产品开发的过程,可避免进行大规模再设计,从而能够有效地减少产品的发布成本和延迟。

数字示波器与近场探头搭配使用,是设计过程中的强大调试仪器。设计人员可以在初期阶段快速定位和分析 EMI 问题。较高的动态范围和 1 mV/div 的高输入灵敏度,确保了即使辐射源很微弱,也可以对其进行分析。R&S®RTO 快速傅里叶变换 (FFT) 提供了快速更新率,FFT 帧重交叠的处理方式和余晖显示功能可以深入了解分析无用辐射。

罗德与施瓦茨提供一系列具有专用测试模式的仪器,例如频谱分析仪模式(结合零频宽)、实时测量余晖模式和频谱图视图等。针对 EMI 测试程序,可使用步进扫描接收机模式(传统模式)和时域(基于 FFT)接收机模式。步进扫描模式可以对整个频谱实现逐点扫描,而时域模式可以并行处理多个频点。

有关详细信息,请参阅我们的《协力推动,驰骋未来》应用手册。

示波器使用近场探头捕获到的辐射。

通过频谱图视图观察到的 DUT 时域时序行为。

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