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Spurious measurements Spectrum analyzers Signal generators

杂散测量

使用 R&S®FSW 快速可靠地检测杂散

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为了测量低电平杂散，通常需要降低分辨率带宽，而这会增加测量时间。R&S®FSW-K50 杂散测量选件可自动搜索杂散，速度快于频谱分析仪的标准杂散搜索测量功能。用户只需输入频率范围和所需的杂散检测电平。应用会计算在每个频率下进行测量的最佳分辨率带宽 (RBW)。在 –120 dBm 或更低电平条件下进行测量时，R&S®FSW-K50 杂散选件的搜索速度远快于传统的杂散搜索方法。

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