板级 EMI 调试

您的任务

EMI 辐射和由不良屏蔽引起的串扰会降低电子射频器件的信号质量和性能。为了将电子器件的整体 EMI 降至最低，必须要清楚地了解集成电路板和模块上的局部辐射源。射频设计人员通过在模块级别执行近场测量来确定电磁干扰是否符合适用的 EMC 标准，以便能够在早期阶段采取纠正措施。

测试与测量解决方案

R&S^®SpectrumRider FPH 手持式频谱分析仪与 R&S^®HZ-15 近场探头组成经济高效且易于用户使用的解决方案，以便用户能够在设计期间快速定位和分析电路板和模块上的 EMI 问题。分析仪具备高灵敏度（3 GHz 时 DANL 典型值 < -163 dBm），能够测量非常小的辐射信号。

设置简单

EMI 调试只需要几个步骤：

• 将合适的近场探头连接至分析仪的射频输入端
• 将探头移至待测试的电路板或模块上

基于前面的场强测量，设计人员已经知道被测电路板或模块的几个临界频率。在 R&S^®SpectrumRider 上必须对频率和跨度作相应的设置。

迹线数学功能抑制环境噪声

屏蔽暗室外部的环境噪声和干扰会影响测量，并导致错误的测量结果。R&S^®SpectrumRider 迹线数学功能可用于抑制环境噪声，即从实际迹线中减去噪声。

要使用迹线数学功能，您必须：

• 根据测试要求设置频率、带宽和电平
• 确保被测设备 (DUT) 已关闭
• 执行一次扫描，包括环境辐射，并将结果存储在 R&S^®SpectrumRider 的迹线存储器中
• 打开 DUT
• 执行第二次扫描，包括来自 DUT 和环境的辐射
• 激活迹线数学功能以消除环境影响

迹线数学功能从上次测量的频谱迹线中减去存储器的内容（环境电磁干扰）。

使用 R&S^®SpectrumRider 迹线数学功能的示例

DUT 已关闭。测量出环境 EMI 频谱在 37.538 MHz 处的干扰，并将其存储在迹线存储器中。

DUT 打开。R&S®Spectrum Rider 测量 DUT 和环境的 EMI 频谱。

减去干扰后 DUT 的 EMI 频谱。迹线数学功能从上次测量中减去存储的环境 EMI，并且 R&S®Spectrum Rider 显示出 DUT 最终的 EMI 结果。

限值线可用于显示屏上的合格/不合格指示，并轻松监控 EMI 设计优化后的改进。

用于磁场和电场的 R&S^®HZ-15 近场探头

R&S^®HZ-15 由五个易用的无源探头组成，是测量用于 EMI 调试的电路板和模块上高频磁场和电场的理想工具。磁场探头包括特殊的电屏蔽探头。罗德与施瓦茨针对近场测量任务设计了多个不同的探头形状：

• 高达 3 GHz 的磁场探头（探头 1、2、5）
• 电场探头（探头 3、4）

窄电极探头 3 能够测量宽度仅为 0.2 mm 的单个导体轨道。探头 4 检测在总线结构、大组件或供应结构的表面上发射的电场。

通过在近场探头和频谱分析仪之间增加 R&S®HZ-16 前置放大器来提高灵敏度，可以测量频率高达 3 GHz、非常微弱的高频场。

R&S®Spectrum Rider 迹线数学功能与近场探头结合，非常适合直接在开发人员的工作台上对 DUT 的 EMI 性能进行初步调查。由于实验室的电气环境不可避免地含有噪声且不断变化，需要借助屏蔽暗室来精确和可重复地确定设备的 EMI 性能。