简化包络跟踪系统

将 R&S®SMW200A 矢量信号发生器以及 R&S®FSW 信号与频谱分析仪结合使用,可以快速简单地进行功率放大器测试,包括包络跟踪及数字预失真测试,有效地取代复杂的测试装置。

您的任务

RF 信号以及相应的包络信号。

越来越多的功率放大器 (PA) 支持包络跟踪 (ET) 技术,用于提高智能手机和战术性无线电的效率并降低功耗。用于测量 PA 的典型测试装置采用极简设计,通常只包含一个信号发生器以及一个频谱分析仪。要进行包络跟踪,需要使用一个额外的发生器,以便为 DC 调制器提供包络信号。包络信号需要高度精密的可调时间调整(使用 RF 信号)、信号整形功能以及具有最佳频谱纯度的信号性能。

通过测量失真并分析预失真影响,可以测量 PA 的性能。如需测量功率附加效率 (PAE),需要同步测量 PA 的输入及输出功率,以及相应的功耗。高度精确的同步是关键所在,如果使用多台测试仪器,这将是一个艰巨的挑战。

测试与测量解决方案

R&S®SMW-K540 选件:实施整形模式。

罗德与施瓦茨提供紧凑型的解决方案,以便用户借助 R&S®SMW200A 以及 R&S®FSW,通过包络跟踪测量功率放大器的特性。R&S®SMW200A 配有 R&S®SMW-K540 包络选件,可生成 RF 信号以及相应的包络信号。由于包络信号是通过基带信号实时生成的,则可以使用任何用户特定的 I/Q 文件或无线通信标准,比如 LTE 或 WCDMA。

在单个仪器中生成 RF 信号及相关的包络信号,有助于准确调整两个信号之间的延时。R&S®SMW200A 以 ps 步幅(在 ±1 μs 范围内)实时调整延时,可以满足严苛的要求,比如针对 20 MHz LTE 信号,延时应小于 1 ns。包络信号整形可用于优化放大器,以提高效率或线性度。R&S®SMW200A 提供各种实时整形方法,比如表格、多项式及去电缆通路。

对于功率扫描,发生器可自动计算包络信号的振幅,从而消除了耗时的人工重算。DC 调制器的增益以及阻抗等其他参数均可调整。

R&S®FSW-K18 选件:在一次测量中实现充分的放大器特性测量

R&S®FSW 使 ET 测试解决方案的分析部分得到补充。R&S®FSW-K18 放大器测量选件可充分测量任何 RF 放大器的特性。该选件可分析典型的 RF 参数,比如增益压缩、ACLR、EVM、AM/ AM 以及 AM/PM 失真。此外,R&S®FSW 使用基带输入测量 PA 的供电电压以及电流消耗,并使用 RF 输入来测量 RF 信号。同步测量的结果可以详细表格及图形的形式显示,提供了瞬时 PAE,即高效性。

通过包络跟踪,放大器将在接近饱和度、甚至已经达到饱和度的条件下操作,从而导致放大器输出失真。因此,通常需要结合使用 ET 以及数字预失真 (DPD),以补偿该等影响。R&S®FSW-K18 可通过失真测量生成 DPD 模型。它可以通过 LAN,自动将最终生成的 DPD 表传输给 R&S®SMW200A。

R&S®FSW 可以通过 LAN,自动将测量的 DPD 表传输给 R&S®SMW200A。

借助 R&S®SMW-K541 数字预失真选件,R&S®SMW200A 可以根据接收的 DPD 表格,对每个复杂的 I/Q 样本应用实时幅度及相位校正。这样一来,用户可以快速验证预失真的影响,甚至是不同的功率电平,无需手动重新计算原始波形文件。R&S®SMW200A 配有 R&S®SMW-K540 包络跟踪以及 R&S®SMW-K541 数字预失真选件,R&S®FSW 配有 R&S®FSW-K18 放大器测量选件,两者结合可提供一个紧凑的测试解决方案,从而显著简化有关设置,以便轻松将包络跟踪添加到您的功率放大器测试中。

关键特性

R&S®SMW200A 矢量信号发生器

  • 通过一台仪器进行 RF 以及包络信号分析
  • 实时整形及延时调整
  • 实时数字预失真

R&S®FSW 信号与频谱分析仪

  • 通过一台仪器进行 RF 以及包络信号分析
  • 功能全面的 RF 及失真分析
  • 具有最高的动态范围,简化测试设置
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