本网络研讨会面向从事高速数字电子设计和测试工作的工程师。在验证设计之前，矢量网络分析仪必须进行校准以确保仅测量被测设备。使用同轴适配器时，可以直接进行校准。但是，许多被测设备（例如印刷电路板上的组件）并未配备同轴适配器，需要使用夹具以使用特殊的连接器。S 参数去嵌可以精确补偿夹具和引入线的影响。
首先，我们将简要介绍基本的 S 参数和校准知识。您还将了解夹具补偿方法。本网络研讨会将主要展示并演示 IEEE 370 标准定义的高级去嵌和夹具建模。我们将讨论印刷电路板测试等用例，并介绍去嵌、连接器测试夹具补偿、电缆测试夹具补偿、片上系统测试夹具补偿以及未配备同轴连接器的射频设备等。研讨会将通过实例和演示来阐述相关方法和用例。
Joern Pfeifer studied Electronics Engineering at the University of Applied Sciences in Emden, Germany, and graduated with a degree in High Frequency Engineering. As an Application Engineer, he joined Rohde & Schwarz in 2016 and focuses on high speed digital design applications. He is a contributing member of the OPEN Alliance Automotive Ethernet TC9 working group.
